ADF C150 - инспекционный микроскоп для микроэлектроники
Основные характеристики:
- Увеличение до 2000 крат
- Высокое разрешение до 0,3 мкм
- Визуальный контроль кремниевых пластин, а также компонентов в гель паках
- Стол для пластин 6", 8" или 12"
- Возможность работы в проходящем свете с фотошаблонами