ADF C150 - инспекционный микроскоп для микроэлектроники

Основные характеристики:

  • Увеличение до 2000 крат
  • Высокое разрешение до 0,3 мкм
  • Визуальный контроль кремниевых пластин, а также компонентов в гель паках
  • Стол для пластин 6", 8" или 12"
  • Возможность работы в проходящем свете с фотошаблонами
Наименование компании:
Д-микро