ADF F20 - цифровой микроскоп для визуального контроля качества и измерения изделий
Основные характеристики:
- Для контроля печатных плат на микроэлектронном производстве, контроля корпусов, разварки и пайки
- Максимальное увеличение микроскопа до 400 крат при использовании монитора с большой диагональю
- Большое рабочее расстояние - 105 мм
- Моторизованная и автоматическая фокусировка
- Требуется только монитор для просмотра и измерений