ADF F20 - цифровой микроскоп для визуального контроля качества и измерения изделий

Основные характеристики:

  • Для контроля печатных плат на микроэлектронном производстве, контроля корпусов, разварки и пайки
  • Максимальное увеличение микроскопа до 400 крат при использовании монитора с большой диагональю
  • Большое рабочее расстояние - 105 мм
  • Моторизованная и автоматическая фокусировка
  • Требуется только монитор для просмотра и измерений
Наименование компании:
Д-микро